Nombre:

José Campos Alvarez

Correo electrónico:

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Teléfono:

(777) 3 62 00 90 ext.

Especialidades

• Microscopía electrónica de barrido

• Caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos

• Desarrollo de sistemas de medición

• Microscopía electrónica de barrido

• desarrollo de sistemas de medición

• caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos

• caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos

• Microscopía electrónica de barrido

• Desarrollo de sistemas de medición

• caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos

• Microscopía electrónica de barido

• Desarrollo de sistemas de medición

• caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos

• Desarrollo de sistemas de medición

• Microscopía electrónica de barido

• caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos

• Desarrollo de sistemas de medición

• Microscopía electrónica de barido

Producción académica

José Campos Álvarez

Nacido el 14 de Septiembre de 1960, en Monterrey N.L., México

Licenciatura en Física, Facultado de Ciencias Físico Matemáticas, U.A.N.L. (1985)

Maestría en Física de Materiales, Facultad de Ciencias, UNAM. (1994)

Miembro de SNI, Nivel 1.

57 Artículos, 1330 citas, índice h: 22. 

Líneas de investigación:

1. caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos
2. desarrollo de sistemas de medición
3. microscopía electrónica de barrido